StarTest™ serves as the ICT/JTAG test support supplier
DISCOVER YOUR BOARD'S HIDDEN TEST POTENTIAL!
 

Educational Papers

  1. Monograph of Dr. Ami Gorodetsky "Introduction into the JTAG and DFT Technologies", Germany Palmarium Academic Publishing House, Saarbrucken, 2012 (in Russian)

  2. ❝תקן JTAG החדש 1149.7 IEEE❞
    New-Tech Magazine, February 2011

  3. ❝בדיקתיות JTAG לפיני קלט-פלט מתקדמים❞
    102-104 "טכנולוגיות, גיליון 304 , ינואר 2007, עמ

  4. ❝Bridge For On-Board and On-Chip 1149.4-Compliant Testability❞
    4th IEEE International Board Test Workshop, Ft Collins, CO, 2005

  5. ❝Contactless Mixed-Signal In-Circuit Testing❞ (Бесконтактное внутрисхемное тестирование аналого-цифровых схем)
    East-West Design & Test Workshop EWDTW05, Odessa, Ukraine, ❝Радиоэлектроника и Информатика❞, N 3, 2005, Харьков

  6. ❝Device and Method For Testing Mixed-Signal Circuits❞
    US Patent Application #20070035321 Class: 324761000 (USPTO), filed on August 30, 2005

  7. ❝ScanWorks במערכת Boundary-Scan יישום טכנולוגיית❞ Part 1 Part 2 Part 3
    גיליון 2 , 2003, עמ" 23-21 Com - רכש

  8. ❝אסטרטגייה לאופטימיזציית בדיקות מבניות לכרטיסים❞
    טכנולוגיות, גיליון 229, ינואר 2003, עמ " 128-124

  9. ❝DFT as Test Optimization Strategy❞
    The 22nd Electrical and Electronics Engineers Convention in Israel, 2002

  10. ❝אנלוגית ומעורבת Boundary-Scan טכנולוגיית❞ Part 1 Part 2 Part 3
    טכנולוגיות, גיליון 229 ,ינואר 2002, עמ" 128-124

  11. ❝Boundary-Scan אסטרטגיית פעילות תוך-מעגל בטכנולוגיית❞ Part 1 Part 2
    טכנולוגיות, גיליון 223 ,אוגוסט 2001, עמ" 154-158

  12. ❝Boundary-Scan תכנון לבדיקתיות ויישום באמצעות❞
    טכנולוגיות, גיליון 217 ,מרץ(2) 2001, עמ" 210-214

  13. ❝Board Structural Test Optimization Strategy❞
    Scientific Israel -Technological Advantages, vol.3, 2001, pp.126-134 (English)

  14. ❝In-Circuit Testing Optimization Generator❞
    United States Patent #20030014206

  15. ❝Test and On-board Programming Station❞
    United States Patent #20020170000

  16. ❝The Boundary Scan Principles❞ (Принцип граничного сканирования)
    ChipNews Microelectronics, Moscow, 2001, #6, pp.14-19 (Russian)




 
Site map | About Us | Solutions | Products | StarTest™ Library | Partners and Customers | Support | Monograph
Contact Webmaster
© StarTest™.
All rights reserved