StarTest™ serves as the ICT/JTAG test support supplier
DISCOVER YOUR BOARD'S HIDDEN TEST POTENTIAL!
JTAG.TECT is our subsidiary for Russian-speaker customers   מבוא בעברית
 

Educational Papers

  1. Monograph of Dr. Ami Gorodetsky "Introduction into the JTAG and DFT Technologies", Germany Palmarium Academic Publishing House, Saarbrucken, 2012 (in Russian)

  2. ❝תקן JTAG החדש 1149.7 IEEE❞
    New-Tech Magazine, February 2011

  3. ❝בדיקתיות JTAG לפיני קלט-פלט מתקדמים❞
    102-104 "טכנולוגיות, גיליון 304 , ינואר 2007, עמ

  4. ❝Bridge For On-Board and On-Chip 1149.4-Compliant Testability❞
    4th IEEE International Board Test Workshop, Ft Collins, CO, 2005

  5. ❝Contactless Mixed-Signal In-Circuit Testing❞ (Бесконтактное внутрисхемное тестирование аналого-цифровых схем)
    East-West Design & Test Workshop EWDTW05, Odessa, Ukraine, ❝Радиоэлектроника и Информатика❞, N 3, 2005, Харьков

  6. ❝Device and Method For Testing Mixed-Signal Circuits❞
    US Patent Application #20070035321 Class: 324761000 (USPTO), filed on August 30, 2005

  7. ❝ScanWorks במערכת Boundary-Scan יישום טכנולוגיית❞ Part 1 Part 2 Part 3
    גיליון 2 , 2003, עמ" 23-21 Com - רכש

  8. ❝אסטרטגייה לאופטימיזציית בדיקות מבניות לכרטיסים❞
    טכנולוגיות, גיליון 229, ינואר 2003, עמ " 128-124

  9. ❝DFT as Test Optimization Strategy❞
    The 22nd Electrical and Electronics Engineers Convention in Israel, 2002

  10. ❝אנלוגית ומעורבת Boundary-Scan טכנולוגיית❞ Part 1 Part 2 Part 3
    טכנולוגיות, גיליון 229 ,ינואר 2002, עמ" 128-124

  11. ❝Boundary-Scan אסטרטגיית פעילות תוך-מעגל בטכנולוגיית❞ Part 1 Part 2
    טכנולוגיות, גיליון 223 ,אוגוסט 2001, עמ" 154-158

  12. ❝Boundary-Scan תכנון לבדיקתיות ויישום באמצעות❞
    טכנולוגיות, גיליון 217 ,מרץ(2) 2001, עמ" 210-214

  13. ❝Board Structural Test Optimization Strategy❞
    Scientific Israel -Technological Advantages, vol.3, 2001, pp.126-134 (English)

  14. ❝In-Circuit Testing Optimization Generator❞
    United States Patent #20030014206

  15. ❝Test and On-board Programming Station❞
    United States Patent #20020170000

  16. ❝The Boundary Scan Principles❞ (Принцип граничного сканирования)
    ChipNews Microelectronics, Moscow, 2001, #6, pp.14-19 (Russian)




 
Site map | About Us | Solutions | Products | StarTest™ Library | Partners and Customers | Support | Contact Us | Monograph
Contact Webmaster
© StarTest.
All rights reserved